Defect recognition and image processing in semiconductors 1997 : proceedings of the Seventh International Conference on Defect Recognition and Image Porcessing in Semiconductors (DRIP VII) held in Templin, Germany, 7-10 September, 1997 / edited by J. ; Donecker and I. Rechenberg
(Institute of Physics conference series ; no. 160)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | Bristol : Institute of Physics |
| 出版年 | c1998 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xx, 524 p. ; 24 cm |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 請求メモ | 予約 | 仮想書架 | 指定図書 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 泉:多賀城キャンパス図書館図書コーナー |
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TK/7871dd/1997 | a5098002850b |
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0750305002 |
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| 一般注記 | Includes bibliographical references and index |
|---|---|
| 著者標目 | Donecker, J. Rechenberg, I. |
| 件 名 | Semiconductors -- Defects -- Congresses
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Image processing -- Congresses 全ての件名で検索 |
| 分 類 | LCC:TK7871.85 |
| 書誌ID | 1000975627 |
| ISBN | 0750305002 |
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