Semiconductor material and device characterization / Dieter K. Schroder
(A Wiley-Interscience publication)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 版 | 2nd ed |
| 出版者 | New York : Wiley |
| 出版年 | c1998 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xxiv, 760 p. ; 25 cm |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 請求メモ | 予約 | 仮想書架 | 指定図書 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 泉:多賀城キャンパス図書館図書コーナー |
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QC/611ss | a5098002729b |
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0471241393 |
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| 一般注記 | Includes bibliographical references and index |
|---|---|
| 著者標目 | Schroder, Dieter K. |
| 件 名 | Semiconductors Semiconductors -- Testing 全ての件名で検索 |
| 分 類 | LCC:QC611 |
| 書誌ID | 1000975632 |
| ISBN | 0471241393 |
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