Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis / Ludwig Reimer
(Springer series in optical sciences ; v. 45)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 版 | 2nd completely revised and updated ed |
| 出版者 | Berlin : Springer |
| 出版者 | Tokyo |
| 出版年 | c1998 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xiv, 527 p. : ill. ; 25 cm |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 請求メモ | 予約 | 仮想書架 | 指定図書 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 泉:多賀城キャンパス図書館図書コーナー |
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QH/212sr | a5098003916b |
|
3540639764 |
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| 一般注記 | Includes bibliographical references and index |
|---|---|
| 著者標目 | Reimer, Ludwig, 1928- |
| 件 名 | Scanning electron microscopy |
| 分 類 | LCC:QH212.S3 |
| 書誌ID | 1000979011 |
| ISBN | 3540639764 |
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