Nanoscale characterisation of ferroelectric materials : scanning probe microscopy approach / M. Alexe, A. Gruverman, Eds
(Nanoscience and technology)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | Berlin : Springer |
| 出版年 | c2004 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xiii, 282p. : ill. ; 24 cm |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 請求メモ | 予約 | 仮想書架 | 指定図書 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 土:中央図書館閉架地下記念文庫室(上層) |
|
TA/418na | a5004002373b |
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3540206620 |
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| 一般注記 | Includes bibliographical references and index |
|---|---|
| 著者標目 | Alexe, M. (Marin) Gruverman, A. (Alexei) |
| 件 名 | Nanostructured materials Nanotechnology |
| 分 類 | LCC:TA418.9.N35 |
| 書誌ID | 1000746795 |
| ISBN | 3540206620 |
| NCID | BA67035785 |
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