High performance memory testing : design principles, fault modeling, and self-test / R. Dean Adams
(Frontiers in electronic testing)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | Boston : Kluwer Academic |
| 出版者 | London |
| 出版年 | c2003 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xiii, 246 p. : ill ; 25 cm |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 請求メモ | 予約 | 仮想書架 | 指定図書 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 土:中央図書館閉架地下記念文庫室(上層) |
|
TK/7895ha | a5003005205b |
|
1402072554 |
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| 一般注記 | Includes bibliographical references and index |
|---|---|
| 著者標目 | Adams, R. Dean |
| 件 名 | Semiconductor storage devices -- Testing
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| 分 類 | DDC:621.39732 |
| 書誌ID | 1000738344 |
| ISBN | 1402072554 |
| NCID | BA6145707X |
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