Characterization / Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Masahiko Tomitori
(Nanoscience and technology ; . Applied scanning probe methods ; 9)
データ種別 | 図書 |
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出版者 | Berlin : Springer |
出版年 | c2008 |
本文言語 | 英語 |
大きさ | lix, 387 p. : ill. (some col.) ; 24 cm |
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配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 請求メモ | 予約 | 仮想書架 | 指定図書 |
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土:中央図書館閉架地下記念文庫室(上層) |
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TA/417ab/9 | a5008000261b |
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9783540740827 |
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著者標目 | Bhushan, Bharat, 1949- Fuchs, H. (Harald) 富取, 正彦||トミトリ, マサヒコ |
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件 名 | Scanning probe microscopy Scanning probe microscopy -- Industrial applications 全ての件名で検索 Materials -- Microscopy 全ての件名で検索 |
分 類 | LCC:TA417 |
書誌ID | 1000831049 |
ISBN | 9783540740827 |
NCID | BA84576577 |