Micro and nano mechanical testing of materials and devices / edited by Fuqian Yang [and] James C. M. Li
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | New York : Springer |
| 出版者 | London |
| 出版年 | c2008 |
| 大きさ | xiii, 387 p. : ill ; 24 cm |
所蔵情報を非表示
| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 請求メモ | 予約 | 仮想書架 | 指定図書 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 土:中央図書館閉架地下記念文庫室(上層) |
|
TK/7875my | a5008003372b |
|
9780387787008 |
|
書誌詳細を非表示
| 一般注記 | Formerly CIP Includes bibliographical references and index |
|---|---|
| 著者標目 | Yang, Fuqian Li, James C. M. (...James Chen-Min...), 1925- |
| 件 名 | Materials -- Testing
全ての件名で検索
Microelectromechanical systems -- Testing 全ての件名で検索 Nanoelectromechanical systems -- Testing 全ての件名で検索 |
| 分 類 | LCC:TK7875 |
| 書誌ID | 1000834747 |
| ISBN | 9780387787008 |
| NCID | GK35157251 |
類似資料
