Materials reliability in microelectronics II : symposium held April 27-May 1, 1992, San Francisco, California, U.S.A. / editors, C. V. Thompson, J. R. Lloyd
(Materials Research Society symposium proceedings ; v. 265)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | Pittsburgh, PA : Materials Research Society |
| 出版年 | c1992 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | ix, 328 p. : ill. ; 24 cm |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 請求メモ | 予約 | 仮想書架 | 指定図書 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 泉:多賀城キャンパス図書館図書コーナー |
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TK/7874mt | a5093002470b |
|
1558991603 |
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| 一般注記 | Includes bibliographical references and index |
|---|---|
| 著者標目 | Thompson, C. V. (Carl V.) Lloyd, J. R. (James R.) |
| 件 名 | Microelectronics -- Reliability -- Congresses
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| 分 類 | DDC:621.381 LCC:TK7874 |
| 書誌ID | 1000932376 |
| ISBN | 1558991603 |
| NCID | BA18823607 |
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