Reflection electron microscopy and spectroscopy for surface analysis / Zhong Lin Wang
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | Cambridge ; New York : Cambridge University Press |
| 出版年 | 1996 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xix, 436 p. : ill. ; 26 cm |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 請求メモ | 予約 | 仮想書架 | 指定図書 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 泉:図書館閉架地下2階書庫 |
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TA/417rw | a3000022597b |
|
0521482666 |
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| 泉:多賀城キャンパス図書館図書コーナー |
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TA/417rw | a5096004922b |
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0521482666 |
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| 一般注記 | Bibliography: p. 403-430 Includes indexes |
|---|---|
| 著者標目 | *Wang, Zhong Lin |
| 件 名 | LCSH:Materials -- Microscopy
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LCSH:Surfaces (Technology) -- Analysis 全ての件名で検索 LCSH:Reflection electron microscopy |
| 分 類 | LCC:TA417.23 DC20:620/.44 |
| 書誌ID | 1000957391 |
| ISBN | 0521482666 |
| NCID | BA27672998 |
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