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Applied scanning probe methods / Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Sumio Hosaka [eds.]
(Nanoscience and technology)

データ種別 図書
出版者 Berlin ; New York : Springer
出版年 c2004
本文言語 英語
大きさ xx, 476 p. : ill. ; 24 cm

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多:図書館開架2階
TA/417ab/1 a5004000622b
3540005277

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一般注記 Includes bibliographical references and index
著者標目 Bhushan, Bharat, 1949-
Fuchs, H. (Harald)
Hosaka, Sumio
件 名 LCSH:Materials -- Microscopy  全ての件名で検索
LCSH:Scanning probe microscopy
分 類 LCC:TA417.23
DC22:620.1/1299
書誌ID 1000741260
ISBN 3540005277
NCID BA65708590 WCLINK

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