半導体材料・デバイスの評価 : パラメータ測定と解析評価の実際 / ディーター・K・シュロゥダー著 ; 嶋田恭博訳
ハンドウタイ ザイリョウ デバイス ノ ヒョウカ : パラメータ ソクテイ ト カイセキ ヒョウカ ノ ジッサイ
データ種別 | 図書 |
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出版者 | 東京 : シーエムシー出版 |
出版年 | 2012.5 |
本文言語 | 日本語 |
大きさ | vii, 583p ; 21cm |
別書名 | 原タイトル:Semiconductor material and device characterization |
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配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 請求メモ | 予約 | 仮想書架 | 指定図書 |
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土:中央図書館閉架地下記念文庫室(上層) |
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549.8/H29s | a5012201115b |
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9784781304793 |
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一般注記 | 文献: 章末 原著第3版の翻訳 |
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著者標目 | Schroder, Dieter K. 嶋田, 恭博 <シマダ, ヤスヒロ> |
件 名 | BSH:半導体 |
分 類 | NDC8:549.8 NDC9:549.8 |
書誌ID | 1001067639 |
ISBN | 9784781304793 |
NCID | BB09175332 |