Transmission electron microscopy and diffractometry of materials / Brent Fultz, James Howe
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 版 | 3rd ed |
| 出版者 | Berlin : Springer |
| 出版年 | 2008 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xix, 758 p. : ill. ; 24 cm |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 請求メモ | 予約 | 仮想書架 | 指定図書 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 土:中央図書館閉架地下記念文庫室(上層) |
|
TA/417tf | a5008000701b |
|
9783540738855 |
|
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| 一般注記 | Includes bibliographical references and index |
|---|---|
| 著者標目 | Fultz, B. Howe, James M., 1955- |
| 件 名 | Materials -- Microscopy
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Transmission electron microscopy X-ray diffractometer |
| 分 類 | DDC:620.1/1299 LCC:TA417.23 |
| 書誌ID | 1000831358 |
| ISBN | 9783540738855 |
| NCID | BA84011728 |
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