半導体材料の欠陥評価技術 : GaAs基板評価・Si MOS界面評価
ハンドウタイ ザイリョウ ノ ケッカン ヒョウカ ギジュツ : GaAs キバン ヒョウカ・Si MOS カイメン ヒョウカ
| データ種別 | 図書 |
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| 出版者 | 東京 : サイエンスフォーラム |
| 出版年 | 1985.4 |
| 本文言語 | 日本語 |
| 大きさ | 419p ; 31cm |
所蔵情報を非表示
| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 請求メモ | 予約 | 仮想書架 | 指定図書 |
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| 泉:多賀城キャンパス図書館図書コーナー |
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549.8/I37h/B | a5080003176b |
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| 泉:多賀城キャンパス図書館図書コーナー |
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549.8/I37h/A | a5080108983b |
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