CCD image sensors in deep-ultraviolet : degradation behavior and damage mechanisms / F.M. Li, A. Nathan
(Microtechnology and MEMS)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | Berlin : Springer |
| 出版者 | New York |
| 出版年 | 2005 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xi, 231 p. : ill. ; 25 cm |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 請求メモ | 予約 | 仮想書架 | 指定図書 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 土:中央図書館閉架地下記念文庫室(上層) |
|
TA/1637cl | a5006001325b |
|
354022680X |
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| 一般注記 | Includes bibliographical references and index |
|---|---|
| 著者標目 | Li, F. M. (Flora M.) Nathan, Arokia, 1957- |
| 件 名 | Image processing -- Digital techniques
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Remote sensing Service life (Engineering) |
| 分 類 | LCC:TA1637 |
| 書誌ID | 1000815274 |
| ISBN | 354022680X |
| NCID | GB08963437 |
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