Atom probe microscopy / Baptiste Gault ... [et al.]
(Springer series in materials science ; 160)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | New York : Springer |
| 出版年 | c2012 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xxiii, 396 p. : ill. (some col.) ; 25 cm |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 請求メモ | 予約 | 仮想書架 | 指定図書 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 土:中央図書館閉架地下記念文庫室(上層) |
|
QH/212ag | a5012000688b |
|
9781461434351 |
|
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| 一般注記 | Includes bibliographical references and index |
|---|---|
| 著者標目 | Gault, Baptiste Moody, Michael P. Cairney, Julie M. Ringer, Simon P. |
| 件 名 | LCSH:Atomic force microscopy LCSH:Scanning probe microscopy LCSH:Atom-probe field ion microscopy |
| 書誌ID | 1001071225 |
| ISBN | 9781461434351 |
| NCID | BB09508537 |
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