Applied scanning probe methods / Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Sumio Hosaka [eds.]
(Nanoscience and technology)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | Berlin ; New York : Springer |
| 出版年 | c2004 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xx, 476 p. : ill. ; 24 cm |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 請求メモ | 予約 | 仮想書架 | 指定図書 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 土:中央図書館閉架地下記念文庫室(上層) |
|
TA/417ab/1 | a5004000622b |
|
3540005277 |
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| 一般注記 | Includes bibliographical references and index |
|---|---|
| 著者標目 | Bhushan, Bharat, 1949- Fuchs, H. (Harald) Hosaka, Sumio |
| 件 名 | LCSH:Materials -- Microscopy
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LCSH:Scanning probe microscopy |
| 分 類 | LCC:TA417.23 DC22:620.1/1299 |
| 書誌ID | 1000741260 |
| ISBN | 3540005277 |
| NCID | BA65708590 |
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