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テストは何のためにあるのか : 項目反応理論から入試制度を考える / 光永悠彦編著 ; 西田亜希子著
テスト ワ ナンノ タメ ニ アル ノカ : コウモク ハンノウ リロン カラ ニュウシ セイド オ カンガエル

データ種別 図書
出版者 京都 : ナカニシヤ出版
出版年 2022.9
本文言語 日本語
大きさ ix, 239p : 挿図 ; 26cm
別書名 裏表紙タイトル:Item response theory
標題紙タイトル:test

所蔵情報を非表示

五:コラトリエ・ライブラリー5階図書
376.87/T84m a3022209710b
9784779516832

書誌詳細を非表示

一般注記 参考文献: p233-237
事項索引: p238
人名索引: p.239
著者標目 光永, 悠彦(1979-) <ミツナガ, ハルヒコ>
西田, 亜希子(1976-) <ニシダ, アキコ>
件 名 NDLSH:教育測定
NDLSH:試験 (教育)
BSH:入学試験(大学)
分 類 NDC9:371.7
NDC9:376.8
NDC10:376.87
書誌ID 1001227592
ISBN 9784779516832
NCID BC17143066 WCLINK

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