テストは何のためにあるのか : 項目反応理論から入試制度を考える / 光永悠彦編著 ; 西田亜希子著
テスト ワ ナンノ タメ ニ アル ノカ : コウモク ハンノウ リロン カラ ニュウシ セイド オ カンガエル
データ種別 | 図書 |
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出版者 | 京都 : ナカニシヤ出版 |
出版年 | 2022.9 |
本文言語 | 日本語 |
大きさ | ix, 239p : 挿図 ; 26cm |
別書名 | 裏表紙タイトル:Item response theory 標題紙タイトル:test |
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配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 請求メモ | 予約 | 仮想書架 | 指定図書 |
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五:コラトリエ・ライブラリー5階図書 |
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376.87/T84m | a3022209710b |
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9784779516832 |
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一般注記 | 参考文献: p233-237 事項索引: p238 人名索引: p.239 |
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著者標目 | 光永, 悠彦(1979-) <ミツナガ, ハルヒコ> 西田, 亜希子(1976-) <ニシダ, アキコ> |
件 名 | NDLSH:教育測定 NDLSH:試験 (教育) BSH:入学試験(大学) |
分 類 | NDC9:371.7 NDC9:376.8 NDC10:376.87 |
書誌ID | 1001227592 |
ISBN | 9784779516832 |
NCID | BC17143066 |